目次
記事の要約
- Phoxterが外観検査ステーション集約ソリューションを発表
- AIとルールベース、特殊光学機器を融合したStellaController 2.0
- 関西ネプコンジャパン2025でデモ展示
Phoxterの外観検査ソリューション
株式会社Phoxterは2025年5月14日～16日に開催される「第1回 関西ネプコン ジャパン」に出展し、外観検査コントローラー「StellaController 2.0」を中心に、AIとルールベースの融合、特殊光学機器による高度な外観検査を体験できるデモを公開する予定だ。このソリューションは、従来複数の検査ステーションが必要だった工程を大幅に削減できる。
ルールベース検査ではQRコード読取、測長、位置決めなどに対応し、AI検査では目視では見逃しがちな不良を高精度に検出する。AI OCR検査では漢字を含む特殊文字の登録・読取が可能だ。StellaController 2.0は多種多様な検査を高速で処理できるコントローラーである。
250社以上の導入実績から得られた知見に基づき、特殊な光学機器構成で一般的なカメラ・レンズ・照明では対応できなかった課題を解決してきた。今回の展示では、特殊レンズを用いたAI外観検査のデモも実施する予定だ。
包装後のパッケージ外観および内部の検査を同時に行うデモンストレーションも予定されている。透明フィルムの破れや内包製品についた傷などもAIを用いて検出する。外観検査だけでなくOCRにもAIを活用し、1台のコントローラーで複数項目の検査を実現する。
展示会概要と製品情報
| 項目 | 詳細 |
|---|---|
| イベント名 | 第1回 関西ネプコン ジャパン |
| 開催期間 | 2025年5月14日(水)～16日(金) 10:00-17:00 |
| 会場 | インテックス大阪 6号館B会場 K1-5 |
| 入場料 | 無料(事前登録または招待券が必要) |
| 製品名 | StellaController 2.0 |
| 主な機能 | AI外観検査、ルールベース検査、AI OCR検査 |
| 特徴 | 複数の検査ステーションを1台に集約 |
AI外観検査について
AI外観検査は、従来のルールベースによる検査では検出が困難だった微細な傷や汚れ、変色などをAIが学習し、自動的に検出する技術だ。これにより、検査精度と効率の大幅な向上が期待できる。
- 不良検出精度の向上
- 検査時間の短縮
- 人件費削減
AI外観検査は、製造業における品質管理の高度化に大きく貢献する技術であり、今後ますます需要が高まると予想される。
StellaController 2.0に関する考察
StellaController 2.0は、AIとルールベース、特殊光学機器を組み合わせたことで、従来は複数の検査ステーションが必要だった工程を1台に集約できる点が大きなメリットだ。これにより、省スペース化、コスト削減、生産性向上に貢献するだろう。
しかし、AIの学習データの質や量によって検査精度が大きく左右される可能性がある。また、導入初期にはシステム設定やAIモデルのチューニングに時間を要する可能性も考えられる。そのため、導入支援体制の充実や、継続的なメンテナンス体制の構築が重要となるだろう。
今後、より高度なAIアルゴリズムの開発や、多様な検査対象への対応、クラウド連携によるデータ分析機能の追加などが期待される。さらに、ユーザーインターフェースの改善や、操作性の向上も重要となるだろう。
参考サイト/関連サイト
- PR TIMES.「Phoxter、外観検査ステーションを“1台”に集約 – AI×ルールベース×光学機器の最新ソリューションを関西ネプコン ジャパン(5/14-16)に展示 | 株式会社Phoxterのプレスリリース」.https://prtimes.jp/main/html/rd/p/000000010.000135061.html, (参照 2025-05-02).
